تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۲۵ ثانیه یافت شد.

1. IDDQ testing of VLSI circuits

پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها